바이렉스가 프랑스 NIT(New Imaging Technologies)의 최신 고성능 2K SWIR 라인스캔 카메라 'LiSa SWIR 2048M-STE2(Version 2)'를 국내 시장에 공식 공급한다. 이번 신제품은 NIT의 InGaAs 센서 기술이 집약된 모델로 국내 반도체·디스플레이·이차전지 검사 공정의 생산성 향상에 기여할 것으로 기대된다. LiSa SWIR 2048M-STE2는 2048×1 해상도에서 110kHz 이상의 풀 해상도 라인 레이트를 지원한다. 고속 생산 라인에서도 이미지 손실 없이 미세 결함 검출이 가능한 수준으로, 80% 이상의 높은 피크 양자 효율(Peak QE)을 통해 적외선 영역 감도를 극대화했다. 14-bit ADC를 탑재해 풍부한 계조의 데이터 출력도 구현했다. 픽셀 설계에서는 8µm 픽셀 피치와 14µm 픽셀 높이를 채택해 해상도와 수광량 사이의 균형을 맞췄다. 사용 환경에 따라 High·Medium·Low 세 가지 게인 모드를 선택할 수 있으며, Low Gain 모드에서는 66dB의 높은 다이나믹 레인지를 제공한다. ITR과 IWR 모드를 모두 지원해 검사 시나리오에 따른 유연한 운용도 가능하다. 내구성 면에서는 영하
세이지가 9월 3일부터 5일까지 인천 송도컨벤시아에서 열리는 ‘국제 첨단 반도체 기판 및 패키징 산업전(KPCA Show 2025)’에 참가한다. KPCA Show는 국내 유일이자 최대 규모의 반도체 기판 및 패키징 전시회로, 올해는 LG이노텍, 삼성전기, 심텍 등 국내외 250여 개 기업이 참여해 역대 최대 규모로 개최된다. 세이지는 이번 전시에서 자사의 AI 기반 머신 비전 솔루션 ‘세이지 비전(SAIGE VISION)’을 중심으로 PCB 제작 과정에서 발생하는 결함을 자동 검출하는 실시간 데모를 선보인다. 단순한 시연을 넘어 현장에서 바로 적용 가능한 기술력과 실용성을 보여주는 것이 핵심이다. 특히 PCB 제작 결함 검사와 더불어 머신러닝 모델의 개발부터 배포, 운영, 모니터링까지 관리할 수 있는 ‘MLOps 플랫폼’을 함께 소개하며, 제조 현장에서 지속적으로 최적화 가능한 AI 운영 환경을 제시할 예정이다. 세이지 비전은 딥러닝 알고리즘을 활용해 기존 룰 베이스 검사 방식이 놓치던 비정형적 결함까지 빠르고 정확하게 검출하는 것이 특징이다. 제품 표면의 불규칙적 손상이나 미세한 결함을 인식해 불량 여부를 판단하고, 이차전지와 PCB 산업을 비롯한 다양한
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