라인 스캔 카메라로 제조 수율과 품질 향상
웨이퍼 기반 태양 전지의 자동 광학 검사(AOI)는 코팅과 인쇄의 결함을 감지하고 작은 표면 결함을 확실하게 특성화하기 위해 2D와 3D 이미징의 조합이 필요하다.
AOI는 검사 시간을 줄이고 처리량을 높여 제조업체에 최고의 수율을 보장하는 동시에 원자재와 자원의 최대 활용을 보장한다. 그러나 태양전지는 앞면과 뒷면의 금속 전극, 실리콘 층, 반사 방지 코팅이 된 질감 표면 등 검사가 필요한 여러 층이 있기 때문에 복잡한 공정이다.
라인 스캔 이미징 분야의 세계적인 리더인 크로마센스(Chromasens)는 AOI 검사를 위한 2D 및 3D 라인 스캔 카메라 전체 라인과 LED 조명 시스템으로 이 문제를 해결한다.
크로마센스의 카메라는 표면 상태와 형상을 스캔하고 왜곡, 칩, 톱 자국, 오염을 모두 매우 빠른 속도로 감지하는 데 있어 타의 추종을 불허한다. 크로마센의 첨단 이미징 엔지니어링은 미세 균열을 발견할 수 있으며, 이를 감지하지 못하면 후속 생산 단계에서 셀이 파손될 수 있다.
또한 크로마센 라인 스캔 카메라는 대형 셀 포맷과 매우 얇은 손가락 폭에 필요한 매우 높은 해상도를 제공하며 이미지 포화를 방지하기 위한 안티 블루밍 또는 자동 노출 기능을 제공한다.
GigEVision 및 GenICam과의 호환성과 컴팩트한 설치 공간 덕분에 기존 또는 새로운 AOI 시스템에 크로마센스 라인 스캔 카메라를 간단하고 빠르고 비용 효율적으로 통합할 수 있다.
최신 크로마센스 라인 스캔 카메라는 다양하다. 우선 고속으로 컬러 또는 모노를 위한 TDI 옵션을 갖춘 새로운 멀티 라인 CMOS 센서가 탑재된 크로마센스 allPIXA evo 8k 라인 스캔 카메라는 듀얼 10기가비트 또는 CoaXPress 인터페이스를 통해 풀 컬러 8k의 경우 최대 90kHz의 라인 속도를 구현할 수 있다.
라인 및 프레임 트리거 옵션, 가변 인코더 입력 및 컬러 변환 가능성 덕분에 allPIXA evo 8k는 고속, 고해상도 검사 애플리케이션을 위한 최고의 선택이 될 수 있다. 근적외선 범위의 필터를 사용하면 카메라 한 대로 가시광선 및 근적외선 스펙트럼의 물체 특징을 인식할 수 있어 미세 균열을 감지하는 데 유용하다.
크로마센스 allPIXA SWIR은 회사 최초의 단파장 적외선 라인 스캔 카메라다. 최첨단 InGaAs 센서의 작은 설치 공간 덕분에 태양전지 검사 생산 전반에 걸쳐 사용할 수 있다. 512 또는 1k 해상도, 뛰어난 감도, 40kHz의 라인 속도를 갖춘 비냉각식 센서가 특징이다. GenICam과 호환되는 GigE Vision 및 CameraLink 인터페이스를 통해 기존 AOI 시스템에 쉽게 통합할 수 있다.
크로마센스 3DPIXA 3D 라인 스캔 카메라는 스테레오 라인 스캔 카메라 기술과 빠른 3D 스테레오 연산이 결합된 독특한 제품이다. 다양한 구성으로 제공되는 3DPIXA 카메라는 하나의 장치로 고해상도 컬러 이미지와 3D 높이 맵을 획득한다. 3DPIXA 카메라 3D 애플리케이션은 일반적인 이미지 처리 라이브러리를 지원하여 직접 만들 수 있다. 또한 통합하기 쉬운 크로마센스 3D API, 3DPIXA 이미지 및 3D 데이터는 다른 모든 Windows 소프트웨어 환경에서 사용할 수 있다.
한편, 국내에서 머신비전 전문업체인 이미지포커스가 크로마센스 제품을 유통하고 있다.
헬로티 김진희 기자 |
