최신뉴스 자이스, 단일 패키지의 듀얼 현미경과 측정기 출시

자이스(ZEISS)가 최근 광학 및 촉각 측정 기술 분야의 포트폴리오 확장을 위해 ZEISS O-INSPECT 듀오를 출시했다고 발표했다. 이 솔루션은 정밀 측정 기술과 고해상도 현미경 검사를 결합하여 하나의 장비로 크고 작은 부품을 모두 검사할 수 있다. 자이스에 따르면, ZEISS O-INSPECT 듀오는 부품 검사 및 측정에 있어 최고 수준의 기준을 요구하는 품질 실험실과 기업을 대상으로 한다. 효율성, 유연성, 정밀성을 결합하여 현대 생산 공정의 증가하는 요구 사항을 충족한다. ZEISS O-INSPECT 듀오는 회로 기판이나 연료 전지 같은 대형 공작물부터 소형 부품까지 복잡한 부품의 측정과 검사를 위해 특별히 설계되었다. 고해상도 현미경의 통합 덕분에 이제 대형 부품을 절단하지 않고도 검사할 수 있다. 이를 통해 귀중한 자원을 절약하고 측정 데이터를 오류 없이 더 빠르고 정확하게 처리할 수 있다. 광학 및 촉각 측정 기술이 결합된 ZEISS O-INSPECT 듀오의 가장 큰 장점은 광학 및 촉각 측정 기술의 결합이다. 비접촉 센서 기술을 통해 민감한 부품을 측정할 수 있으며 정확한 결과를 보장한다. 촉각 3D 측정을 위해 스캐닝 모드에서 빠른 속도

• 김진희 기자
• 2024-11-30 12:14