엠비젼이 SWIR 이미징을 위한 SWIR 조명 개발에 성공했다고 밝혔다. 최근 자동차, AI 등 다양한 분야에서 다기능·고집적 반도체에 대한 수요가 폭발적으로 늘어나면서 고집적화와 기판 대형화가 계속되고 있다. 이로 인해 반도체 패키지와 웨이퍼의 보이지 않는 결함을 검출하기 위한 비전검사 시스템에 대한 수요도 함께 증가하고 있다. 반도체 패키지나 웨이퍼 내부의 크랙 등 일반적인 비전검사 시스템에서는 볼 수 없는 결함을 검출하기 위해 최근 SWIR 카메라가 인기를 끌고 있다. 이번에 엠비젼이 개발한 솔루션은 SWIR 카메라와 함께 사용할 경우 결함 검출력을 크게 향상할 수 있는 SWIR 조명이다. 엠비젼의 SWIR 조명은 동축 스폿조명, 면조명, 돔조명으로 개발됐다. 파장은 1100과 1200, 1300, 1450, 1550, 1650(nm)로 다양하게 구성되어 있어 사용자가 필요한 파장을 선택해 편리하게 적용할 수 있다. 적외선의 회절현상을 고려해 최적의 설계로 개발한 SWIR 렌즈 역시 0.5X, 0.7X, 1.0X로 출시되어 있다. SWIR 카메라를 중심으로 SWIR 조명과 렌즈를 시스템으로 구성해 반도체와 웨이퍼 내부 결함에 대한 검출력을 획기적으로 향
㈜엠비젼 박상범 연구원 조명은 우리의 일상생활에서 어둠을 밝혀줄 뿐만 아니라 여러 가지 특수한 목적으로 사용되고 있다. 특히 카메라로 영상을 촬영할 때는 필수적으로 사용된다. 조명은 영상을 촬영하기 위해 , 피사체에 빛을 비추고 조절해주며, 이를 적절하게 사용하면 피사체를 효과적으로 표현할 수 있다. 촬영 현장에서 여러 대의 조명과 반사판을 사용하는 것도 피사체를 원하는 대로 표현하며 좀더 부각시키기 위해서다. 동일한 피사체를 두고 서로 다른 조명을 사용했을 때, 피사체가 다르게 표현될 수 있다. 이러한 조명은, 산업현장에서 제품을 검사할 때도 매우 중요한 역할을 한다. 사람이 육안으로 제품을 검사할 때 검사항목이 잘 검출되도록 따로 마련된 조명을 이용하거나 실내등에 제품을 여러 각도로 비추어 보며 검사하는 모습은 우리에게 매우 익숙한 모습이다. 작업자의 컨디션이나 각자의 주관에 따라 검사의 결과는 달라질 수 있지만 그 과정에 조명이 필요하다는 사실은 누구도 부정할 수 없을 것이다. 그리고 검사의 주체가 인간에서 기계로 바뀌어도 조명의 중요성은 변하지 않으며 오히려 더욱 중요해지기도 한다. 머신비전 시스템에서도 마찬가지다. 그림1에서 보는 바와 같이 카메라와