자이스(ZEISS)가 현미경과 CMM이 결합된 단일 솔루션을 출시해 업계의 주목을 받고 있다.
자이스에 따르면, 새로운 ZEISS O-INSPECT 듀오는 하나의 장비에 두 가지 기술을 결합하여 PCB, 연료 전지 또는 배터리와 같은 대형 공작물 전체를 고해상도로 측정하고 검사할 수 있다. 3D 측정 기술과 현미경 검사의 결합으로 품질 실험실의 효율성을 높이고 공간을 절약할 수 있다. ZEISS O-INSPECT 듀오는 8/6/3 사이즈로 제공된다.
'VMM 현미경'인 ZEISS O-INSPECT 듀오는 품질 보증의 두 가지 필수 애플리케이션을 지원하여 크고 작은 부품을 정밀하게 측정하고 고해상도로 검사할 수 있다. 또한 이 장비는 분할, 스티칭, 컬러 이미지를 통한 이미지 처리 등 치수 측정과 검사의 조합이 필요한 애플리케이션을 위해 특별히 개발되었다. 품질 검사실에서는 VMM과 현미경을 모두 확보할 필요 없이 하나의 장비만 있으면 되므로 공간과 시스템 비용을 절약할 수 있다.
ZEISS O-INSPECT 듀오는 멀티센서 측정기이며 고해상도 광학 센서와 ZEISS VAST XXT 촉각 스캐닝 센서가 결합된 주목할만한 측정기다. 이 센서는 한 번의 동작으로 많은 수의 측정 지점을 캡처하여 빠르고 정확한 3D 측정을 가능하게 한다.
매우 작거나 민감한 부품도 접촉 없이 뛰어난 정확도로 측정할 수 있을 뿐만 아니라 ZEISS VAST 프로빙(ZVP)을 통해 측정 시간을 크게 단축할 수 있다. 이는 높은 이미지 해상도의 넓은 시야각과 주변부까지 뛰어난 이미지 충실도 덕분에 가능하다.
치수 측정 외에도 많은 공작물에는 표면 검사도 필요하다. 이전에는 측정과 검사를 위해 두 개의 개별 기기를 사용했다면, 이제 ZEISS O-INSPECT 듀오는 2-in-1 솔루션을 제공한다. 직관적인 장치 작동과 고해상도 5 MP Discovery. 12배 줌 렌즈가 장착된 V12 scout 160 c 컬러 카메라 센서 덕분에 이제 측정 장치에서 검사 작업도 수행할 수 있다.
이 장비는 ZEISS CALYPSO와 함께 일반적으로 사용하는 것 외에도 ZEISS ZEN 코어 소프트웨어와 함께 현미경 검사 작업에도 사용할 수 있다. 동축 업라이트와 백라이트 외에도 ZEISS O-INSPECT duo는 링 라이트에 대한 다양한 제어 옵션도 제공한다. 내부 및 외부 LED 링을 개별적으로 켜고 끄거나 개별 세그먼트에서만 활성화할 수 있다.
현미경 및 계측 작업을 위한 특정 기능을 갖춘 두 가지 전용 소프트웨어 프로그램이 ZEISS O-INSPECT 듀오에 포함되어 있다. 자이스 칼립소와 결합하면 자이스 3차원 측정기의 잠재력을 최대한 활용할 수 있다. ZEN 코어는 현미경 이미징 그 이상을 처리한다. 이 소프트웨어는 연결된 재료 실험실에서 멀티 모달 현미경을 위한 가장 포괄적인 이미징, 분할, 분석 및 데이터 연결 도구 모음이다. 또한 타일링, 스티칭(간섭계측), 자동 오류 감지 등의 광범위한 기능을 제공한다.
헬로티 김진희 기자 |
