수명 평가 테스트 셋업 시간 및 비용 획기적으로 개선
큐알티가 27일인 오늘 ‘다채널 광대역 고주파인가장치’ 특허를 취득했다고 밝혔다.
다채널 광대역 고주파인가장치는 광대역 고주파 신호의 입출력과 전력 세기를 비교분석해 통신용 RF(Radio Frequency, 고주파에너지) 신호를 정밀하게 입력해주는 장치다.
RF 소자에 상이한 전력 레벨을 갖는 RF 신호를 분석해 입력부, 증폭부, 출력부에 자동적으로 동일한 레벨로 전력을 제공하는 것은 물론, 폭넓은 주파수 범위와 다채널의 높은 파워로 다량의 RF 소자 신뢰성 테스트가 가능하다.
해당 특허는 RF 소자의 ELFR, Burn In, HTOL 등 반도체 수명을 분석하는 신뢰성 테스트에 주로 활용된다. RF 소자 신뢰성 테스트는 RF 입력의 정확도가 중요한데, 장치 내 ALC 알고리즘을 통해 ±0.5dB 수준의 신호를 지원해 수명 평가 테스트 셋업 시간 및 비용을 획기적으로 개선했다. 이와 더불어, 다채널 광대역 고주파인가장치에 별도 추가 장치를 결합할 경우 RF 소자의 기능검사도 지원한다.
큐알티 최영락 제2연구소장은 “최근 5G, IoT, 자율주행 등 4차 산업혁명 시장이 확대되면서 최첨단 기기에 탑재되는 RF 소자의 중요성이 부각되고 있다. 하지만 칩 개발 과정에서 mmWave 및 광대역 RF 칩에 대한 기술 개발은 이미 완료됐으나, 신뢰성 평가 인프라가 부족해 어려움을 겪는 기업이 많다”고 말했다.
이어 그는 “국내 반도체 생태계가 기술적 측면에서도 세계 시장에서 경쟁력을 보유할 수 있도록 R&D 분야에 많은 투자와 도전을 지속해갈 예정이다”고 전했다.
한편, 큐알티는 한국산업기술평관리원과 차세대지능형반도체사업단으로부터 지원받아 세계 최초로 RF 소자에 대한 수명평가 및 열화 메커니즘을 동시에 파악 가능한 시스템 및 지능형 소프트웨어 개발을 앞두고 있다. 현재 프로토 타입 테스트를 진행 중이며, 2023년 하반기 출시가 예상된다.
헬로티 서재창 기자 |
