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[이달의 추천도서] 반도체 패키지

  • 등록 2013.03.04 11:33:37
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반도체 패키지


체계적이고 한눈에 들어오는 이론 구성!!
그림과 도표, 사진을 이용하여 이해하기 쉬운 설명!!



반도체는 없어서는 안될 현대 문명의 이기로써 우리의 생활 곳곳에 스며들어 있다. 그만큼 반도체의 중요성이 높아지고, 특히 반도체 패키지 부문은 반도체 팹 중심에서 단순 조립으로 치부되던 영역이 2000년대에 들어서며 비약적인 발전을 이루어 반도체의 한 축을 담당하게 되었다. 또한 해가 갈수록 반도체 패키지의 특성과 제조 방법이 부가가치 창출에 더욱 중요한 역할을 하고 환경에서 고속화 대응을 위한 다층 기술, 본딩 기술이 점점 새롭게 정립되며, 용량 증가를 위한 슬림화 및 적층 기술은 더욱 더 정교해지고 있다.
이 책은 반도체 패키지에 관심을 갖고 있는 공학도들을 위해 반도체 패키지의 개념과 각 부문의 기초에 대하여 체계적, 이론적으로 집필하고자 하였으며, 나아가 점차 반도체 부문에서 중요성이 대두되고 있는 반도체 패키지를 좀 더 쉽게 이해하고 배울 수 있는 학습의 지침서로 만들고자 하였다.

Chapter 1. 반도체 패키지 개요
1_ 패키지(Package)의 정의
2_ 패키지의 역할
3_ 패키지 기술 트렌드
Chapter 2. 패키지 종류와 공정
1_ 패키지의 종류
2_ 패키지의 공정
Chapter 3. 선행 패키지 기술
1_ 플립 칩(Flip Chip) 패키지
2_ RDL(Re-Distribution Layer)
3_ WLCSP(Wafer Level Chip Scale Package)
4_ TSV(Through Si Via) 적층
Chapter 4. 전기 및 구조 해석
1_ 전기 해석
2_ 구조 해석
Chapter 5. 패키지 설계
1_ 리드 프레임 설계 가이드(Lead Frame Design Guide)
2_ 반도체 기판 설계 가이드(Substrate Design Guide)
Chapter 6. 패키지 재료
1_ 리드 프레임(Lead Frame)
2_ 기판(Substrate)
3_ 테이프(Tape)
4_ 접착제(Adhesive)
5_ 금속(Metal)
Chapter 7. 패키지 신뢰성
1_ 패키지 신뢰성의 개요
2_ BGA, CSP 신뢰성
Chapter 8. 측정
1_ 웨이퍼 두께 측정
2_ 전기 단자 크레이터링 검사(PAD Cratering Inspection)
3_ 볼 인장/전단 시험(Wire Ball Pull/Shear Test)
4_ 솔더 볼 인장/전단 시험(Solder Ball Pull/Shear Test)
5_ 접촉각(Contact Angle) 측정
6_ 프로파일 프로젝트(Profile Project)
7_ 엑스레이(X-Ray) 검사
8_ 초음파 비파괴 검사기
9_ XRF(X-Ray Fluorescence) Spectroscopy









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