인하대학교 반도체특성화대학사업단이 제26회 한국테스트학술대회에서 우수한 성과를 거뒀다. 학부생과 대학원생 등 33명이 대회에 참가한 가운데, 전기전자공학부 정성빈 학생이 삼성전자 후원 최우수논문상을 수상하며 산학 연계 연구성과를 입증했다.

해당 논문은 반도체 칩의 이상 여부를 진단하는 내장형 자가 테스트(LBIST) 구조에 적용 가능한 기법을 제안해 주목받았다. 테스트 벡터의 우선순위 부여와 LFSR 회로 신호 중첩 활용을 통해 오류 탐지율을 극대화한 점이 높은 평가를 받았다. 이번 수상은 총 86편의 발표 논문 중 단 3편만 선정된 최우수논문상에 해당하며 학부생 연구 성과로서도 의미가 크다.

이영우 부단장은 학술대회 프로그램 공동위원장을 맡아 행사 운영에 기여했으며 인하대는 이번 대회의 후원기관으로도 참여했다. 학술대회는 한국반도체테스트학회 주관으로 열렸으며 삼성전자와 SK하이닉스를 포함한 37개 기업이 후원하고 800명 이상이 참석해 성황리에 진행됐다.

인하대 반도체특성화대학사업단은 국내외 학술대회 참여 확대와 우수 인재 양성을 통해 반도체 산업의 실무형 인재 배출 기반을 더욱 강화할 계획이다.

헬로티 구서경 기자 |