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텍트로닉스의 파라미터 애널라이저, 일리노이 대학 나노제조기술 연구팀에 도입

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[첨단 헬로티]

일리노이 대학교 전기 및 컴퓨터 공학 전공의 나노제조기술 실험실에서 학사 과정 최초로 학생들에게 마이크로 및 나노 전자공학 실험·실습 경험을 제공할 수 있도록 텍트로닉스의 '키슬리 4200A-SCS 파라미터 애널라이저 3대와 4200A-CVIV 멀티 스위치 모듈 3대를 도입했다. 


텍트로닉스의 4200A-SCS는 소재, 반도체 디바이스 및 프로세스의 전기적 특성을 분석하기 위해 통합된 모듈형 파라미터 애널라이저이다. 


▲텍트로닉스 4200A-SCS


4200A-SCS와 함께 일리노이 대학교에 도입된 4200-CVIV는 DC 및 AC 측정간 전환 및 다른 테스트 디바이스의 터미널로 AC 츨정 이동을 오류 없이 수행할 수 있다.


일리노이 대학은 230,000평방 피트 규모의 ECE 빌딩에 나노제조기술 연구실을 구축 중인데, 이 새로운 시설에는 학생들에게 전자 공학 및 컴퓨팅 분야의 충분한 실험과 실습 경험을 제공할 수 있도록 20개 이상의 전용 실험실도 함께 준비되고 있다.


텍트로닉스의 4200A-SCS가 일리노이 대학교에 도입된 이뉴는 장비를 처음 사용하는 연구원이나 학생들이 장비를 쉽게 사용할 수 있고, 최소한의 교육으로도 실무에 즉시 활용할 수 있는 큰 장점이 있기 때문이라고 한다.



일리노이 대학의 데인 시버스(Dane Sievers) 교수는 "키슬리 4200A-SCS는 첨단 파라미터 기능과 사용성의 이상적인 조합을 제공하는 것이 입증된 장비다" 면서, "실제로 사용해보니, 장비의 작동이 굉장히 직관적이기 때문에 교육 없이도 어렵지 사용할 수 있었다" 고 평했다. 


I-V 특성화를 위한 SMU(소스 미터 유닛), AC 임피던스 측정을 위한 커패시턴스-전압 모듈, 그리고 펄스 I-V, 파형 캡처 및 트랜지언트 I-V 측정을 수행하는 초고속 펄스 측정기로 구성된 4200A-SCS는 연구원 및 엔지니어 모두에게 소재 연구, 반도체 디바이스 설계, 개발 또는 생산에 필요한 중요 파라미터를 제공한다. 


텍트로닉스의 키슬리 PL 총 책임자인 마이크 플래어티(Mike Flaherty)는 "파라미터 애널라이저 사용경험이 없는 유저라도 4200A-SCS를 굉장히 쉽게 설정하고 익힐 수 있도록 만들기 위해 최선을 다했다"면서, "4200A-SCS의 훌륭한 사용성 덕분에 이 제품은 반도체 디바이스 연구, 디바이스 결함 분석 및 신뢰성 테스트 등의 애플리케이션뿐 아니라 일리노이 대학교가 구축 중인 것처럼 여러 사용자를 위한 공유 리소스로 사용되는 교육 실험실에도 적합할 것이다"라고 언급했다.










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